随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更精确的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于随机逻辑、存储器、FPGA和微处理器。最后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。
第I部分 设计与测试
第1章 测试综述
1.1 可靠性与测试
1.2 设计过程
1.3 验证
1.3.1 功能模拟
1.3.2 时间模拟
1.4 测试
1.5 故障及其检测
1.6 测试码生成
1.7 故障覆盖率
1.8 测试类型
1.8.1 穷举测试
1.8.2 伪穷举测试
1.8.3 伪随机测试
1.8.4 确定性测试
1.9 测试应用
1.9.1 在线测试与离线测试
1.9.2 自动测试仪器
1.9.3 片上测试与片外测试
1.10 易测试性设计
1.10.1 可控性
1.10.2 可观察性
1.11 测试经济
1.11.1 收益和缺陷级
1.11.2 故障覆盖率和缺陷级别
1.12 进一步研究
参考文献
习题
第2章 缺陷、失效和故障
2.1 简介
2.2 物理缺陷
2.2.1 材料过多和缺失
2.2.2 氧化物断裂
2.2.3 电迁移
2.3 故障模式
2.3.1 开路
2.3.2 短路
2.4 故障
2.5 固定型故障
2.5.1 单固定型故障
2.5.2 多固定故障
2.6 故障列表
2.6.1 等价关系
2.6.2 支配关系
2.6.3 故障精简
2.7 桥接故障
2.8 短路和开路故障
2.8.1 NMOS电路
2.8.2 CMOS电路
2.9 时延故障
2.10 暂时失效
2.10.1 瞬时故障
2.10.2 间歇故障
2.11 噪声失效
参考文献
习题
第3章 设计表示
第4章 VLSI设计流程
第II部分 测试流程
第5章 测试中模拟的角色
第6章 自动测试码生成
第7章 电流测试
第III部分 易测试性设计
第8章 专用技术
第9章 路径扫描设计
第10章 边界扫描测试
第11章 内建自测试
第IV部分 特殊结构
第12章 存储器测试
第13章 FPGA与微处理器的测试
第V部分 高级论题
第14章 易测试性综合
第15章 SOC测试
附录A 参考书目
附录B 缩写词表