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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3505    
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3505
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高，最适合生产线 •校正维修功能，减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3511-50    
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3511-50
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
精巧，非常专业，5ms快速测量LCR •高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) •高精度： ± 0.08% •内置比较器 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 ... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3522-50    
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3522-50
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率 •5ms高速测量的LCR计 •宽频量程(DC或1mHz~100kHz) •测量14种参数(高分辨率和高精度) •DC电阻测量 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3532-50    
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3532-50
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 •测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 •可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来 输入用探头/测... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3535    
日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3535
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
高速LCR仪，采样率可高至120MHz •100kHz～120MHz的宽频带 •高速LCR测试（6ms/采样） •拆卸式前置放大器可选择 •为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择，为订货的... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 阻抗分析仪 IM3570    
日本日置 阻抗分析仪 IM3570
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 •1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 •LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 •基本精度±0.08%的高精度测量 •适用于压电元件... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 信号源 SIGNAL SOURCE 7016    
日本日置 信号源 SIGNAL SOURCE 7016
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
同时操控信号产生与测量 •多用途的测试器 •能够校验工业设备 •产生宽幅的信号源并满足电子回路和设备的测试要求 基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 直流信号源 DC SIGNAL SOURCE SS7012    
日本日置 直流信号源 DC SIGNAL SOURCE SS7012
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
信号发生和测量可同时进行 •与 HIOKI 之前的产品相比较，提高了稳定性的同时降低了成本 •用于测量设备系统 (4 - 20 mA) 和回路测试 •检查温度控制设备和配电情况 •可发生8种不同的热电偶信号 •是电力设备... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075-01    
日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075-01
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075    
日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、... [查看更多] [查看企业信息]