分光光度计波长的校正
来源于：www.otoworld.cn 发布者：jc 发布时间：2006-11-21 阅读：577次

    生产厂家会在仪器附件中都配有用来校正波长的镨钕滤光片或干涉滤光片，以便用户对仪器进行定期校正。而镨钕滤光片是一种含有稀有金属镨和钕的玻璃制品。稀有金属的吸收光谱是由内层f电子的跃迁产生的，由于受外层电子的屏蔽作用，因而峰形对称，半宽度较窄，最大吸收峰明显。为减小读数误差，在它的几个吸收峰中，厂家一般推荐使用529nm的吸收峰作为校正标准。因此用户可以将镨钕滤光片卡在附件中的滤光片架上放入比色室中，每隔2nm测定一次，在最大吸收峰处，每隔1nm测定一次，记录对应波长下所测得的吸光度，最后以波长为横坐标，吸光度为纵坐标，绘制出吸收光谱曲线（图略）
    然后曲线图可以看出529nm处有一吸光度适宜的吸收峰，若该吸收峰偏离529nm处，表明仪器有波长差，其允许波长差为±3nm ，超过此值需进行校正。对于72型或722型分光光度计可通过移动波长盘进行校正，对于721型或XG-125型分光光度计可通过波长校正螺丝加以校正，若吸收峰小于529nm处可顺时针调节波长校正螺丝，大于529nm 时逆时针旋转调节波长螺钉。每次只需微动即可，然后再测试一下，直至达到符合要求为止。
    当然测量波长差的方法有很多，还可以用标准溶液进行校正，具体问题具体分析。